A63.7081 Scanadh Gunna Astuithe Allamuigh Schottky Micreascóp Leictreon Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x~800000x Featured Image

Cur síos gairid:

15x ~ 800000x Micreascóp Leictreon Scanadh Gunna Astuithe Allamuigh Schottky
Luasghéarú E-Bhíoma le Soláthar Reatha Bhíoma Cobhsaí Íomhá den scoth Faoi Voltas Íseal
Is féidir Sampla Neamh-Stiúrtha a Bhreathnú go Díreach Ní gá a bheith sputtered i voltas íseal
Comhéadan Oibríochta Éasca & Cairdiúil, Gach Contrártha le Luch I gCóras Windows
Seomra Mór Samplach Le Cúig Ais Céim Mhótair Eucentric Méid Mór, Max Eiseamal Dia.320mm
Cainníocht íosta ordú:1

Sonraí an Táirge

Clibeanna Táirgí

A63.7081_01.jpg

Cur síos ar an Táirge

A63.7081 Gunna Astuithe Allamuigh Schottky Scanadh Micreascóp Leictreon SEM Pro FEG
Rún		1nm @ 30KV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2.5nm@30KV (BSE)
Formhéadú		15x ~ 800000x
Gunna Leictreon		Gunna Leictreon Astaíochta Schottky
Bhíoma Leictreon Reatha		10pA ~ 0.3μA
Luasghéarú Voatage		0 ~ 30KV
Córas Fholúis		2 Chaidéal ian, Caidéal Móilíneach Turbo, Caidéal Meicniúil
Brathadóir		SE: Brathadóir Leictreon Tánaisteach Ard Fholúis (Le Cosaint Brathadóra)
		BSE: Brathadóir Scatála Ar Ais Ceithre Leathsheoltóra
		CCD
Céim an Eiseamail		Céim Mótair Eucentric Cúig Aiseanna
Raon Taistil	X	0 ~ 150mm
	Y	0 ~ 150mm
	Z	0 ~ 60mm
	R	360º
	T	-5º ~ 75º
Trastomhas Eiseamail Max		320mm
Modhnú		EBL; STM; AFM; Céim Téimh; Céim Cryo; Céim Teanntachta; Láimhseálaí Micrea-nana; Meaisín Cumhdaithe SEM +; SEM + Laser Etc.
Gabhálais		Brathadóir X-gha (EDS), EBSD, CL, WDS, Meaisín Cumhdaigh srl.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Buntáiste agus Cásanna

Tá micreascópacht leictreon scanadh (sem) oiriúnach chun topagrafaíocht dromchla miotail, criadóireachta, leathsheoltóirí, mianraí, bitheolaíochta, polaiméirí, comhdhúile agus ábhair aontoiseacha, déthoiseacha agus tríthoiseacha nana-scála a fheiceáil (íomhá leictreon tánaisteach, íomhá leictreon backscattered). Is féidir í a úsáid chun anailís a dhéanamh ar chomhpháirteanna pointe, líne agus dromchla microregion. Úsáidtear go forleathan é i peitriliam, geolaíocht, réimse mianraí, leictreonaic, réimse leathsheoltóra, leigheas, réimse bitheolaíochta, tionscal ceimiceach, réimse ábhair pholaiméir, imscrúdú coiriúil ar shlándáil phoiblí, talmhaíocht, foraoiseacht agus réimsí eile.